Метод металлографического анализа

Скачать 0.7 Mb.

Название	Метод металлографического анализа
страница	5/7
Тип	Документы

rykovodstvo.ru > Руководство эксплуатация > Документы

1 2 3 4 5 6 7

27. Микроскоп типа Olympus ВХ-51 или аналог
Предназначение

Микроскоп предназначен для использования различных методов контрастирования и работы с флуоресценцией и дифференциально-интерференционным контрастом (ДИК).

Характеристики и комплектация:

- микроскоп Olympus BX51 для работы в отраженном свете светлого/ темного поля;

- штатив микроскопа для отраженного света;

- силовой кабель;

- тубус тринокулярный с углом наклона 30° и регулировкой межзрачкового расстояния от 50 до 76 мм;

- регулировка диоптрий +/-5 для левого окуляра;

- распределение светового потока окуляры/фотовыход (100/0, 20/80, 0/100);

- широкопольный окуляр 10Х, фокусируемый, поле зрения 22мм;

- широкопольный окуляр 10Х, фокусируемый, поле зрения 22мм;

- широкопольный окуляр 10х, поле зрения 22 мм;

- объект-микрометр 1мм/100дел;

- механический столик, маленький, с правосторонним управлением;

- ламповый домик для галогеновой лампы 100W, включая соединительный кабель;

- фильтр слайдер с фильтрами 25мм;

- DIC слайдер призм для отраженного света;

- осветительный тубус отраженного света;

- 360° анализатор вращаемый;

- поляризатор для отраженного света;

- револьвер для светлопольных и темнопольных объективов с слотом для DIC или U-TAD;

- универсальный объектив план флюорит темного поля. Увеличение 5x числовая апертура 0,15, рабочее расстояние 12,0 мм, максимальное поле зрения 5,30 mm;

- универсальный объектив план флюорит темного поля. Увеличение 10х, числовой апертурой 0,30, рабочее расстояние 6,5 мм, максимальное поле зрения 2,65мм;

- универсальный объектив план флюорит темного поля. Увеличение 20х, числовой апертурой 0,45, рабочее расстояние 3,0 мм, максимальное поле зрения 1,33мм;

- универсальный объектив план флюорит темного поля. Увеличение 50х, числовой апертурой 0,80, рабочее расстояние 1,0 мм, максимальное поле зрения 0,53мм;

- универсальный объектив план флюорит темного поля. Увеличение 100x, числовая апертура 0,90, рабочее расстояние 1,0 мм, максимальное поле зрения 0,27мм;

- защитный чехол для BX41, BX51 и BX52;

XC30 цифровая цветная CCD камера 3 Мп, матрица 1/1,8', разрешение 2080х1544 пикселей, размер пикселя 3,45 х 3,45 мкм, охлаждение Пелтье;

- C-mount адаптер 1x, центрируемый;

- программное обеспечение для базовых операций управления камерой, обработка слоев изображений, объединение нескольких RGB изображений в одно, расчет проекций изображений, рисование и редактирование, текстовые аннотации и рисование, TWAIN, time lapse, расширенные функции обработки изображений (вращение, отзеркаливание и т.д.), конвертация изображений, управление микроскопами, поддержка не-Олимпус камер, измерение расстояний, углов, окружностей, экспорт данных в Excel, создание отчетов, интерфейс и полная справка на русском языке.
28. Металлургический микроскоп для отраженного и проходящего света
Предназначение

Профессиональный металлургический микроскоп для отраженного и проходящего света предназначен для промышленности.

Требования к оборудованию

Параметры	Значение
Визуальная насадка	тринокулярная, вращающаяся (360°), изменяющийся угол наклона окулярных трубок (5°-30°), диоптрийная наводка (5 дптр), межзрачковое расстояние 48-75 мм
Окуляры	Широкопольные окуляры EWF 10х/22 мм
Набор объективов	-отраженный свет: 4х;10х;20х;40х;80х -проходящий свет: 40х; 100х
Конденсор Аббе	центрируемый, регулируемый по высоте с ирисовой диафрагмой A =0.9/1.25, с откидной фронтальной линзой и держателем светофильтров
Штатив	встроенная регулируемая полевая диафрагма, металлический, основание не более 300 x 295 мм с резиновыми ножками
Предметный столик	прямоугольный двухкоординатный (не более 243х158 мм), со стеклянной вставкой, правосторонний, диапазон перемещения препарата 80х55 мм
Электропитание	220 В, 50Гц

29. Микроскоп типа МС 300 Pol или аналог
Требования к оборудованию

Микроскоп должен иметь реверсное револьверное устройство крепления 5-и объективов, поляризационный тубус с градуированным поворотом анализатора от 0° до 90°, с устанавливаемыми линзой Бертрана и λ-компенсатором, встроенный в штатив поляризатор, вращающийся круглый предметный столик с градуировкой от 0° до 360° с нониусом, осветитель проходящего света с реализацией принципа Келера, коаксиальные винты механизма грубой и точной фокусировки, набор компенсационных пластин, противогрибковое покрытие оптики

Параметры	Значение
Увеличение	до 1600х
Визуальная насадка	бинокулярная, вращающаяся (360°), наклон окулярных трубок 30°, диоптрийная наводка ±5 дптр., межзрачковое расстояние 55 - 75 мм
Окуляры	широкопольные WF 10х/18 мм
Набор объективов	поляризационные, ахроматические: 4x/0.10, 10x/0.25, 40x/0.65, 60x/0.80 * пружинящая оправа для защиты препарата
Конденсор Аббе	регулируемый по высоте, центрируемый, с ирисовой диафрагмой, A = 1.25, с держателем светофильтров
Штатив	встроенная регулируемая полевая диафрагма, металлический, основание не более 300 x 295 мм с резиновыми ножками
Предметный столик	круглый с градуировкой (0°-360°), диаметр 145 мм, вращающийся, центрируемый
Поляризатор	установлен в штативе вблизи коллектора
Фокусировка	- коаксиальные винты механизма грубой и точной фокусировки - диапазон фокусировки 40 мм - встроенный механизм блокировки фокусировки и быстрой установки при перенастройке для защиты препарата - механизм регулировки плавности хода
Анализатор	- поляризационный тубус со встроенным поворотным анализатором с градуировкой поворота от 0° до 90° - линза Бертрана
Электропитание	220 В, 50 Гц
Габариты, вес	не более 30 x 30 x 39 см, 7 кг

30. Рентгеновский дифрактометр
Предназначается для решения аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения в областях

разработки новых кристаллических материалов
исследования их структурных характеристик и степени чистоты
технологии получения материалов с заданными свойствами
определения ориентировки монокристаллических заготовок
исследования степени текстурированности и дефектности тонких пленок
анализа фазового состава продукции и промышленных отходов предприятия.

Требования к оборудованию

В базовую конфигурацию дифрактомера должно входить: двукружный горизонтальный гониометр на интегрированных серводвигателях, высоковольтный источник питания с воздушным охлаждением, блок детектирования с каналом регистрации рентгеновских квантов, рентгеновская трубка в защитном кожухе, блоки электронного управления, защита от рентгеновского излучения и программное обеспечение для управления и сбора данных.
Высокочастотный источник питания с воздушным охлаждением должен обеспечивать стабильную работу прибора в течение длительного времени.
Модульный принцип построения прибора должен позволять проводить модернизацию прибора и делать его простым в обслуживании и профилактическом ремонте.
Управление дифрактометром, сбор данных и обработка результатов измерений должно осуществляется с помощью ПК с процессором класса Pentium, RAM - от 64 Мб, HDD - от 2 Гб, цветным монитором от 15", последовательным интерфейсом RS232 и лицензионной версией OS Windows 2000/XP/Vista.

Программа управления и сбора данных должна обеспечивать:

контроль состояния основных узлов и механизмов дифрактометра
автоматическое построение кривой амплитудного распределения
индивидуальное управление любым исполнительным механизмом
пошаговое измерение дифракционного спектра в заданном угловом диапазоне и с заданной экспозицией в режимах Θ, 2Θ и 2Θ/Θ-сканирования
измерение с многократным сканированием различных угловых интервалов с последующим усреднением или суммированием результатов и т.д.

Технические характеристики

Рентгенооптическая схема	Брэгг-Брентано
Диапазон углов сканирования, 2Θ ^о	- 100 + 165
Минимальный шаг сканирования, 2Θ ^о	0.001
Точность позиционирования, 2Θ и Θ ^о	± 0.005
Транспортная скорость, ^о/мин	720
Скорость счета, имп/с	5×10⁵
Потребляемая мощность, кВт	5.5
Питание, В/Гц	220/50
Габаритные размеры, мм	1100 х 1800 х 1050
Масса, кг	470
Установочная площадь, м²	5

В базовую конфигурацию входят:

Гониометр

- Тип: горизонтальный

- Радиус, мм: 200

- Колиммационные щели:

- Соллера, °: 1,5 и 2,5

- вертикальные, мм: 0,05; 0,1; 0,25; 0,5; 1,0; 2,0; 3,0

- горизонтальные, мм: 0,5; 1,0; 2,0; 4,0; 6,0; 8,0; 10,0; 12,0

Держатель образца с вращением
Рентгеновская трубка

- Фокус (ширина x высота, мм): 1,6 x 10,0

- Мощность, кВт: 2,5

- Охлаждение: водяное

Высоковольтный источник питания

- Мощность, кВт: 3,5

- Напряжение, кВ: 0 - 60

- Ток, мА: 0 - 80

- Стабильность, %: < 0,01

- Питание, В: 220 ± 10%, однофазное

- Охлаждение: воздушное

- Размеры, мм: 130 x 480 x 560

- Вес, кг: 30

Сцинтилляционный детектор

- Скорость счета, с^-1: 5×10⁵

Контрольный образец - поликристаллический кварц
Бета-фильтр для Cu-излучения
Корпус с защитой от рентгеновского излучения
Комплект запасных частей и принадлежностей
Программа управления и сбора данных

Комплектация:

Дифрактометр рентгеновский общего назначения.
Методико-математическое обеспечение, комплекс программ для порошковой дифрактометрии на диске CD.
Приставка гониометрическая для текстур и макронапряжений.
Комплект принадлежностей монохроматора.
Комплект принадлежностей держателя детектора.
Комплект принадлежностей держателя.
Комплект принадлежностей кристалла-монохроматора.
Комплект принадлежностей монокристалла кварца.

31. Процессор импульсных сигналов

Данный процессор предназначен для работы с интерфейсом PCI.

Технические характеристики:

Тип интерфейса:	PCI
Время преобразования	1,8 мкс, двойное буферирование
Интегральная нелинейность	0,025% (0,01)
Дифференциальная нелинейность	1% (0,5)
Дополнительная температурная погрешность характеристики преобразования	0,005%/С (0,002)
Дополнительная температурная погрешность источника высокого напряжения	0,01 % / С (0,005)
Полярность входного сигнала	положит. и отрицат.
Постоянная времени белящего фильтра	2 мкс
Коэффициент усиления	10-2500
Число каналов преобразования	8192, 4096, 2048, 1024, 512, 256
Максимальная входная статическая загрузка	до 100000 имп/с
Временное разрешение режектора наложений	400 нс
Полярность высокого напряжения	Положит. и отриц.
Диапазоны высокого напряжения:	1,25 кВ / 1 мкА, Rвых=30 кОм ; 5 кВ / 100 мкА, Rвых=6 МОм
Длина платы	188 мм
Вес платы	200 г
Напряжение питания предусилителя	+24В/50 мА и +12В /100 мА

1 2 3 4 5 6 7

Похожие:

	Методика анализа тональности текста Метод автоматического анализа тональности текста в применении к социологическим задачам		Литература и dvd кадры Папка по технологии Конкурса «Отбор сотрудников отдела продаж» Все факторы делятся на четыре категории: сильные стороны, слабые стороны, возможности и угрозы. Метод включает определение цели проекта...
	Интервью для направления 040100. 68 «Прикладные методы социального анализа рынков» Программа предназначена для преподавателей, ведущих данную дисциплину, учебных ассистентов и студентов направления 040100. 68, обучающихся...		«согласовано» «утверждаю» Начальник юридической службы Наименование закупки: «Поставка цифрового металлографического инвертированного микроскопа мет 1С», №05/17-92
	Предварительный национальный стандарт прст Метод определения температур вспышки. Метод с применением открытого тигля Кливленда		М. В. Переверзева модульная форма в музыке и метод ее анализа Сочинения, облеченные в модульную форму, обычно записаны с помощью особого рода нотации, когда все секции или блоки пространственно...
	Предварительный национальный стандарт прст Метод определения сопротивления битума старению под воздействием высокой температуры и воздуха (метод rtfot)		Конкурсное задание Компетенция Проводит отбор проб и образцов для проведения анализа; определяет оптимальные средства и методы анализа; проводит качественный и...
	Руководство по эксплуатации м 012. 000. 00 Рэ Алкотестер гибдд (в дальнейшем именуемый – прибор) представляет новый метод определения алкоголя в крови посредством анализа выдыхаемого...		Исследование проблемы экономического анализа финансовых результатов... Теоретические основы сущности и логика анализа финансовых результатов деятельности предприятия
	Анкетирование в валеологии Метод анкетирования — психологический вербально-коммуникативный метод, в котором в качестве средства для сбора сведений от респондента...		Метод диагностики межличностных отношений (дмо) д п. н. Л. Н. Собчик... Метод диагностики межличностных отношений представляет собой опросник, в котором короткие характеристики отражают индивидуальный...
	Тип, марка (основные технические характеристики) Прибор элементного анализа (Mg- u)- рентгенофлуоресцент-ный, эмиссионного спектрального анализа или др		Тип, марка (основные технические характеристики) Прибор элементного анализа (Mg- u)- рентгенофлуоресцент-ный, эмиссионного спектрального анализа или др
	Научно-исследовательский институт традиционных методов лечения Методические рекомендации предназначены для врачей, использующих метод Р. Фолля, врачей-рефлексотерапевтов и врачей, использующих...		Тип, марка (основные технические характеристики) Прибор элементного анализа (Mg- u)- рентгенофлуорес-центный, эмиссион-ного спектрального анализа или др

Руководство, инструкция по применению