Лабораторная работа №8.
Определения динамического модуля Юнга E и тангенса угла механических потерь tgδ полимерных материалов.
Цель работы: для исследуемых полимерных материалов определить динамический модуль Юнга E и тангенс угла механических потерь tgδ.
Сущность определения E и tgδ сводится к измерению амплитуды колебаний свободного конца консольно-закреплённого стержня при изменении частоты возбуждающей силы, приложенной к другому, закреплённому концу.
Рис. 1. - Блок-схема экспериментальной установки
Блок-схема установки показана на рисунке 1. Установка состоит из исследуемого образца 1, который крепится специальным зажимом к свободному концу вибратора 2; постоянного магнита 3; катушек возбуждения 4, подключенных к генератору звуковых колебаний 5 и частотомеру 6; системы измерения температуры (термопара «хромель-алюмель» 7 и блок термостатирования 8); термокриокамеры 9, в которой имеются нагреватель 10, змеевик 11 из медной трубки, а также окно 12 для визуального наблюдения колебаний образца. Регистрация амплитуды колебаний осуществляется микроскопом со шкалой, а частоты – частотомером.
Выполнение работы
Ознакомиться с теорией эксперимента
Вырезать образец размерами (50 мм*8 мм*1 мм) из исследуемого полимерного образца и жестко прикрепить его к свободному концу вибратора
С помощью штангенциркуля определить длину незакрепленной части исследуемого образца l и его толщину d
Поместив образец в камеру, собрать, согласно рисунку, электрическую схему установки
С помощью генератора звуковых колебаний подобрать частоту, при которой будет наблюдаться наибольшая амплитуда колебаний образца, то есть резонансную частоту fp. Аналогично фиксируются частоты f1 и f2, при которых амплитуда уменьшается до от своего значения при fp.
По известным формулам рассчитать динамический модуль Юнга
И тангенс угла механических потерь
Здесь ρ – плотность полимера, a0 - числовой коэффициент, который для основной частоты равен 1,875.
Если есть необходимо проследить за изменением E и tgδ полимерного образца при изменении его температуры, то необходимо проделать следующее: а) на нагреватель подать заданное напряжение; б) с помощью системы 7 и 8 зарегистрировать температуру; в) провести измерения, описанные в пункте 5; г) вычислить искомые величины (см. пункт 6)
Для получения низких температур необходимо по змеевику пропустить жидкий азот.
Использование данной установки в учебном процессе помогает студентам лучше понять материал, активизирует мышление, а также развивает познавательный интерес к исследовательской работе.
-
Лабораторная работа №9.
Исследование качества обработки поверхностей микроинтерферометром Линника
Цель работы: ознакомиться с принципом действия и устройством микроинтерферометра МИИ - 4, исследовать глубину неровностей обработанных поверхностей.
Оборудование: микроинтерферометр Линника МИИ - 4 , исследуемые образцы.
Введение
Для изучения чистоты обрабатываемых поверхностей и измерения глубины неровностей на них В.П. Линником был предложен микроинтерферометр. Упрощенная оптическая схема микроинтерферометра Линника, изображенная на рис. 1, аналогична оптической схеме интерферометра Майкельсона.
Пучок лучей света 1 падает на полупрозрачную стеклянную пластину Р и разделяется ею на два, один из которых попадает на исследуемую поверхность П, а второй - на гладкое эталонное зеркало З1,. После отражения эти лучи вновь соединяются на пластинке Р и выходят из интерферометра вертикально вниз. Образующаяся в результате этих лучей интерференционная картина рассматривается в окуляр Ок. Для удобства наблюдения направление интерферирующих лучей изменяется зеркальцем З2. Луч 2 проходит пластину Р дважды вверх и вниз. Для того, чтобы устранить при этом возникающую разность хода, на пути горизонтального луча 3 устанавливается стеклянная пластинка К параллельно Р и такой же толщины. Следует учесть, что на рисунке показан только ход центральных лучей от источника. Пластинка Р освещается параллельными пучком света, а зеркало З1 располагается к поверхности П под углом, меньшим или большим π/2 на малую величину α. В этом случае интерференционная картина имеет вид прямолинейных полос равной толщины, соответствующих воздушному клину между мнимыми изображениями зеркала З1 и поверхности П в зеркале З2. Очевидно, что преломляющий угол такого клина равен α. Если исследуемая поверхность обработана с высокой степенью точности, то интерференционная картина будет состоять из системы светлых и тёмных полос.
Земным полосам (минимумам) соответствует оптическая разность хода лучей, равная 1/2 λ , 3/2 λ, 5/2 λ и т.д.,светлым (максимумам) — 0, λ, 2λ, 3λ и т.д. Если на исследуемой поверхности имеется бороздка глубиной 1/2 λ то, так как свет проходит бороздку дважды, возникает добавочная разность хода, равная λ. Интерференционная полоса при этом искривляется и достигает полосы, соответствующей минимуму следующего порядка (рис.2). Аналогично искривляются все интерференционные полосы, перпендикулярные этой бороздке. В этом случае наблюдаемая величина искривления будет равна а - ширине интерференционной полосы, т.е. расстоянию между полосами. Если величина искривления равна N·а, то глубина бороздки d=1/2 λN. Значение N может быть найдено как отношение величины искривления b полос к расстоянию между полосами:
,(1)
Это выражение справедливо и для дробных значений N.
С помощью такого интерферометра, можно обнаружить на исследуемой
поверхности выпуклости и углубления величиной порядка 10-7 м. внешний вид микроинтерферометра МИИ-4 показан на рис. 3.
Р
ис. 3. Микроинтерферометр МИИ-4.
Образец 1 устанавливается исследуемой поверхностью вниз на предметном столике 2, и включается осветитель 3. Рукоятку 8 поворачивают так, чтобы стрелка-указатель, стояла вертикально, и вращением микроскопического винта 4 фокусирует прибор на исследуемую поверхность. Далее, поворачивая рукоятку 8 так, чтобы стрелка-указатель стояла горизонтально, включают головку объектива. В этом случае при наблюдении в окуляр 5 видны интерференционные полосы. Вращением винта 4 устанавливают микроскоп на наиболее резкое изображение полос. Тогда в поле зрения видны одновременно интерференционная картина и исследуемая поверхность. Вращая основание столика 2, добиваются того, чтобы следы обработки (бороздки) были перпендикулярны интерференционным полосам. Винтовой окулярный микрометр 7 следует развернуть так, чтобы одна из нитей перекрестия была направлена вдоль интерференционных полос. При работе в белом свете (интерференционная картина окрашена) все измерения производят по двум соседним тёмным полосам. При этом λ принимают равным 0,55 мкм. Измерения состоят из двух операций:
измерение ширины интерференционной полосы
α=N1-N2 , (2)
где N1 и N2 - отсчёты по окулярному микрометру при совмещении нити перекрестия с двумя соседними полосами;
измерение величины искривления полос
b = N3 - N4 , (3)
где N3 - отсчёт по окулярному микрометру при совмещении нити окулярного микрометра с одной из полос, N4 - отсчёт при совмещении нити с той же полосой в месте изгиба. Глубина полос вычисляется по формуле (1).
Если при определении а между полосами взять п интервалов, то формула примет вид:
(4)
Выполнение работы
1.Ознакомиться с принципом действия и устройством микроинтерферометра.
2.Получить интерференционную картину.
3.Выбрать неровность и с помощью винтового окулярного микрометра измерить значения N1 N2, N3, N4. Измерения провести для трёх различных точек исследуемой поверхности.
4.Используя формулу (4), рассчитать глубину (высоту) неровностей в исследуемых точках.
Контрольные вопросы и задания
1. Устройство , принцип действия, назначение МИИ-4. •
2.Объяснить возникновение интерференционной картины в виде тёмных и светлых полос.
3.Какова роль пластины К?
4. Как при работе с данным интерферометром повысить точность измерения?
|