МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
НИЖЕГОРОДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ
им. Н.И.ЛОБАЧЕВСКОГО
Совместная Российско-Американская программа
«Фундаментальные исследования и высшее образование»
Научно - образовательный центр физики твердотельных наноструктур ННГУ
ИССЛЕДОВАНИЕ ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ В НЕКОНТАКТНОМ РЕЖИМЕ
Описание лабораторной работы
НИЖНИЙ НОВГОРОД 2003
УДК 621.38
Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме. Описание лабораторной работы / Сост. Д.О.Филатов, А.В.Круглов, Ю.Ю.Гущина — Н.Новгород: Нижегородский государственный университет, 2003 г. — 23 с.
В данной лабораторной работе рассматриваются физические принципы работы сканирующего атомного силового микроскопа в неконтактном режиме и методика исследования топографии поверхности твердых тел в нанометровом масштабе методом неконтактной атомно-силовой микроскопии.
Предназначена для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям 200.200 "Микроэлектроника и полупроводниковые приборы" и 510.404 Физика полупроводников. Микроэлектроника", направление специализации - "Физика твердотельных наноструктур".
Данное пособие подготовлено в рамках работ по проекту "Научно-образовательный центр физики твердотельных наноструктур Нижегородского государственного университета им. Н.И.Лобачевского" (REC-NN-001) Российско-американской программы “Фундаментальные исследования и высшее образование”.
Составители: с.н.с. НОЦ ФТНС ННГУ, канд. физ.-мат. наук Д.О.Филатов
м.н.с. НОЦ ФТНС ННГУ А.В.Круглов
м.н.с. НОЦ ФТНС ННГУ Ю.Ю.Гущина
Рецензент: ____к.ф.-м.н., доц. В.В. Карзанов___________________________
Нижегородский государственный университет им. Н.И.Лобачевского, 2002.
1. Введение
Для детального исследования поверхности твердых тел существует много разнообразных методов. Методы, основанные на увеличении изображения с помощью увеличительных линз и оптических микроскопов ведут свое начало с конца 17 столетия [1]. Уже в 20 веке были разработаны методы микроскопии с помощью электронных и ионных пучков [2].
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — недавнее изобретение, основанное на использовании механического зонда для получения увеличенных изображений поверхности [3]. Этим методом можно получать трехмерное изображение на воздухе, в жидкости и в вакууме с разрешением вплоть до долей ангстрема. В конструкцию СЗМ входят зонд, пьезоэлектрические двигатели для перемещения зонда, электронная цепь обратной связи и компьютер для управления процессом сканирования, получения и обработки изображений (Рис.1).
Главной частью микроскопа является сенсор с высоким пространственным разрешением. Эти сенсоры обычно позволяют измерять расстояния с точностью 0,01 нм. Основными видами сенсоров являются туннельный и атомно-силовой.
Рис.1. Схема сканирующего зондового микроскопа.
Основным элементом атомно-силового сенсора является кантилевер (консоль), представляющий собой пружину с малой жесткостью (10-0,01 Н/м). Кантилеверы производятся из кремния (жесткие) или нитрида кремния (мягкие). На конце V- или I-образного кантилевера закрепляется пирамидальный зонд. Для контактного режима используют мягкие V-образные кантилеверы.
Принцип действия силового сенсора основан на использовании сил атомных связей, действующих между атомами вещества. Совершенно аналогичные силы действуют и между любыми сближающимися телами. В атомно-силовом микроскопе (Atomic Force Microscope — AFM) такими телами служат исследуемая поверхность и скользящее над нею остриё. При изменении силы, действующей между поверхностью и остриём, кантилевер, на котором оно закреплено, отклоняется от положения равновесия, и такое отклонение регистрируется датчиком положения кантилевера. Таким образом, атомно-силовой сенсор представляет собой механический зонд, аналогичный обычному механическому профилометру, однако его чувствительность настолько высока, что позволяет регистрировать силы взаимодействия между отдельным атомами.
Соотношение между силой, воздействующей на зонд F и отклонением кантилевера x определяется законом Гука:
 (1)
Возможно изготовление кантилевера с упругой константой k порядка 1 н/м. Под действием силы взаимодействия между двумя атомами порядка 0,1 наноньютона величина отклонения таких кантилеверов составляет порядка 0,1 nm.
Зависимость силы межатомного взаимодействия от расстояния. При приближении зонда к образцу он сначала притягивается к поверхности благодаря наличию нескольких типов притягивающих сил (силы Ван-дер-Ваальса и др.).
При дальнейшем приближении зонда к образцу электронные оболочки атомов на конце иглы и атомов на поверхности образца начинают перекрываться, что приводит к появлению отталкивающей силы. При дальнейшем уменьшении расстояния отталкивающая сила становится доминирующей.
В общем виде зависимость силы межатомного взаимодействия F от расстояния между атомами R имеет вид:
 (2)
константы a и b и показатели степени m и n зависят от сорта атомов и типа химических связей. Для сил Ван-дер-Ваальса, которые являются наиболее дальнодействующими из некулоновских сил, m=7. На близких расстояниях доминирует кулоновская сила отталкивания ядер, так что n2.
AFM - моды. Существует много методов использования СЗМ. Они обеспечивают специфические подходы к отображению различных типов сил взаимодействия зонда с образцом образцов и получения достоверной информации. Различные AFM-моды отличаются использованием различных
Рис. 2. Зависимость сил взаимодействия между атомами от расстояния между ними.
видов взаимодействия между зондом и образцом, алгоритмов перемещения зонда над поверхностью и обработки данных, чтобы получить изображение поверхности. Выбор соответствующего способа зависит от типа образца, загрязнения и среды, в которой происходит сканирование.
AFM-моды подразделяются на "контактную" (Contact Mode) и "неконтактную" (Non-Contact Mode) в зависимости от знака силы между зондом и образцом (Рис.2). Взаимодействие в притягивающей области силы осуществляется неконтактным способом.
Обычно в Non-Contact Mode используются I-образные кремниевые кантилеверы с пирамидальными зондами (отношение длины L зонда к ширине основания W 2:1, радиус закругления острия r ~ 20 нм).
Пьезоэлектрический двигатель. Для контролируемого перемещения иглы на сверхмалых расстояниях используются пьезокерамические двигатели. Используемые в них пьезокерамические материалы (наиболее распространенный материал – цирконат-титанат свинца, ЦТС (PZT) [5]) изменяют свои размеры под действием приложенного к ним электрического напряжения (пьезоэлектрический эффект).
Существует много типов и форм, в которых выпускаются пьезокерамические двигатели. Каждый имеет свой уникальный пьезоэлектрический коэффициент от 0,1 до 300 нм/В. Так, керамика с коэффициентом расширения 0,1 нм/В позволяет получить перемещение 0,01 nm при приложении напряжения 100 мВ. Таким образом осуществляется прецизионное позиционирование иглы.
2. Принцип работы неконтактного AFM сенсора
В Non-Contact Mode на пьезокерамику накладывается переменное напряжение, которое вызывает изменение ее геометрических размеров. Частоту переменного напряжения выбирают равной собственной частоте колебаний кантилевера.
Линейная теория Non Contact Mode в режиме малых колебаний. Уравнение, описывающее движение зонда при малой амплитуде колебаний в Non Contact Mode, имеет вид:
 , (3)
где z0 – расстояние зонд-образец при нулевой амплитуде колебаний, z(t) - расстояние зонд-образец в момент времени t, 0 – собственная резонансная частота колебаний, – частота вынуждающих колебаний пьезодрайва, z – амплитуда вынуждающих колебаний (закрепленного на пьезодрайве конца кантилевера), амплитуда возбуждения, Q – безразмерная величина - добротность, зависящая от внешней среды (воздух, жидкость или вакуум). Величина Q связана с характерным временем затухания соотношением:
 (4)
Рис.3. Схема работы силового сенсора в неконтактном режиме. Обозначения: 1 – зонд; 2 – кантилевер; 3 – пьезоэлектрический двигатель z; 4 – генератор переменного напряжения; 5 – лазер; 6 – зеркало; 7 – квадрантный фотодетектор; 8 – компаратор; 9 – электронная цепь обратной связи.
Вынужденные колебания образуются из двух различных типов колебаний – переходного процесса и стационарного колебания. Переходный процесс является общим решением уравнения (3) при z=0; он затухает с течением времени и интереса не представляет. Стационарное колебание представляет собой чисто гармоническое колебание с частотой и амплитудой возбуждения z0.
Амплитуда стационарных колебаний зонда равна:
 (5)
Сдвиг фазы колебаний свободного конца кантилевера относительно закрепленного определяется выражением:
 (6)
При приближении зонда к поверхности на него начинает действовать дополнительная сила взаимодействия, что приводит к смещению
  
Рис 4. Амплитудно-частотная (слева) и фазо-частотная (справа) характеристики колебаний зонда вдали от поверхности (a) и при приближении к поверхности образца (b).
резонансной частоты колебаний системы зонд-кантилевер от резонансной по сравнению со свободным колебанием вдали от поверхности (Рис.4).
Резонансная частота колебаний кантилевера изменяется при изменении градиента силы  (при приближении зонда к поверхности) по сравнению со свободно резонирующим кантилевером (вдали от поверхности) в соответствии с выражением:
 (7)
Так как частота вынуждающих колебаний кантилевера поддерживается постоянной и равной 0 в свободном состоянии, то при приближении зонда к поверхности амплитуда колебаний свободного конца кантилевера уменьшается. Эта амплитуда колебаний регистрируется с помощью оптической системы и может быть определена по относительному изменению переменной освещенности верхней и нижней половинок фотодетектора. Далее с помощью синхронного детектора выделяется постоянный сигнал V(t), пропорциональный амплитуде колебаний кантилевера (см. рис.3).
Компаратор 8 сравнивает текущее значение сигнала в цепи сенсора V(t) с изначально заданным VS (Set Point). Он характеризует уровень силы, на котором зонд удерживается от поверхности образца и обычно задается в % от сигнала, соответствующего амплитуде свободных колебаний (вдали от образца). При отклонении значения V(t), от заданного значения Set Point компаратор вырабатывает корректирующий сигнал Vfb. Взаимодействие зонда с образцом поддерживается постоянным за счет приближения и отвода зонда от поверхности системой обратной связи 9. Обратная связь отрабатывает изменение положения зонда, управляя пьезоприводом таким образом, чтобы сила между зондом и образцом была постоянной (режим постоянной силы). Сигнал о высоте z в каждой точке изображения (x, y) берется из канала Z-пьезопривода.
Для формирования изображения поверхности определяются: изменение амплитуды или изменение фазы. Детектирование амплитуды обычно используется для высоко - амплитудных колебаний. Детектирование фазы—при относительно малых амплитудах или при необходимости высокой чувствительности для устойчивости обратной связи.
Поскольку в Non Contact Mode нет физического контакта с образцом, этот режим используется для сканирования с высоким разрешением мягких и "липких" образцов (полимеров) или слишком твердых образцов (кремний), т.к. контакт с твердой поверхностью может привести к затуплению типа, что скажется на поперечном разрешении. В Non Contact Mode возможно увеличение поперечного разрешения некоторых образцов при поддержании высокого Z-разрешения.
3. Разновидности Non Contact Mode
В зависимости от положения зонда по отношению к адсорбционному слою различают: True Non Contact Mode и Intermittent Contact или Tapping Mode.
True—Non Contact Mode. Зонд колеблется внутри адсорбционного слоя. На зонд в основном действуют капиллярные силы адсорбционного слоя. Поскольку состав и толщина адсорбционного слоя неравномерны как по площади образца, так и во времени, это приводит к нестабильности процесса измерения.
Амплитуда колебаний — менее 10 нм.
Set Point – 50-60.
Рис.5. Зависимость амплитуды колебаний кантилевера от расстояния до поверхности А(d).
|
 Рис.6.Зависимость силы взаимодействия от расстояния до поверхности F(d).
|
Tapping Mode. Зонд колеблется с высокой амплитудой, так что при движении к поверхности он пробивает адсорбционный слой и почти касается поверхности, а при движении назад - полностью выходит из адслоя. Важным достоинством этого режима является слабое влияние толщины и состава адслоя на взаимодействие зонда с образцом, что приводит к повышению стабильности и разрешающей способности прибора.
Амплитуда колебаний — 50 нм и более.
Set Point— 20-30.
Рис. 7. Зависимость амплитуды колебаний кантилевера от расстояния до поверхности А(d).
|
 Рис.8. Зависимость силы взаимодействия от расстояния до поверхности F(d).
|
Недостаток Tapping Mode — быстрый износ иглы.
Phase Imaging Mode. Если отдельные участки поверхности имеют различные адсорбционные свойства, то изображение будет иметь дополнительный контраст, зависящий от природы материала на отдельных участках. Он проявляется в изменении фазы колебаний зонда, в то время как амплитуда колебаний отражает топографию поверхности. Поскольку детектирование фазы колебаний возможно одновременно с получением топографии поверхности при амплитудном детектировании положения зонда в обратной связи, то из сравнения амплитудного и фазового изображений возможно получить информацию о фазовом составе образца (так называемая Phase Imaging Mode, рис.9).
4. Методические указания
Прежде чем приступить к работе на AСM, следует изучить техническое описание СЗМ TMX-2100 и руководство пользователя программного обеспечения SPMLab.
 
Рис.9. Топография (слева) и фазовое изображения (справа) поверхности трехкомпонентной системы полимеров. Размер скана – 5х5 мкм.
4.1. Выбор сканера
В диапазоне размеров скана менее 2,5 мкм применяется трубчатый сканер (диапазон перемещений по координатам x и y — 2,5 мкм, высот z — 800 нм), при больших — Tripod сканер с опорной точкой и линеаризатором TrueMetrix (диапазон x и y — 100 мкм z — 10 мкм). Точность отработки перемещений составляет 0,1% от максимального диапазона, уровень вибрационного и акустического шума — 0,07 нм.
4.2. Константы цепи обратной связи и их роль в формировании СЗМ изображения.
Как известно из теории автоматического регулирования, являющейся важным разделом кибернетики, любой регулятор типа изображенного на рис.5, задачей которого является поддержание некоторого параметра системы (в данном случае это сигнал на выходе электронного сенсора V) равным некоторому наперед заданному значению VS, характеризуется тройкой констант P,I,D. Их значения определяют отклик регулятора на возникновение сигнала рассогласования Vfb=V(t) – VS. Вырабатываемый сигнал коррекции VC представляется в виде суммы трех компонент:
 , (8)
где
 (9)
— так называемая пропорциональная компонента отклика,
 (10)
— интегральная компонента и
 (11)
— дифференциальная компонента. Константа в (5) имеет смысл постоянной времени интегратора. Обозначения констант происходят от соответствующих англоязычных терминов Proportional, Integral и Differential.
Пропорциональная компонента VC обеспечивает отклик системы на резкие измерения Vfb, т.е. достаточно высокое значение P является необходимым условием для достоверного изображения мелких деталей поверхности.
Интегральная компонента VI контролирует отклик системы в области низких частот, т.е. обеспечивает отработку крупных деталей поверхности и компенсацию наклона образца относительно оси сканера и дрейфа геометрических характеристик системы.
D является стабилизирующим, демпфирующим параметром. Его увеличение приводит к уменьшению нежелательных осцилляций при исследовании шероховатых поверхностей и высокой скорости сканирования.
Система обратной связи (ОС) СЗМ сконструирована так, чтобы обеспечить возможность намеренного изменения ее параметров. В современных СЗМ применяются цифровые и аналоговые системы ОС. Конкретные значения PID зависят от особенностей конструкции конкретного СЗМ (конструкции и характеристик сканера, кантилевера и усилителей, а также особенностей конкретного алгоритма, используемого для обработки входного сигнала в цифровой системе ОС и т.д.), режима работы СЗМ (значений VS, размера скана, скорости сканирования и т.п.), а также особенностей исследуемой поверхности (степень шероховатости, масштаб особенностей топографии, твердость материала и пр.). Таким образом, для обеспечения достоверности и воспроизводимости топографических данных требуется тщательная подборка оптимальных значений PID для каждого конкретного случая. Большое количество факторов, которые необходимо принимать при этом в расчет, не позволяет дать конкретный рецепт для подбора оптимальных значений PID. Существуют, однако, общие принципы, которыми следует руководствоваться в процессе оптимизации режима работы ОС.
В целом, чем больше значения P и I, тем точнее цепь обратной связи отрабатывает черты сканируемой поверхности и тем достовернее данные, получаемые при сканировании. Однако при превышении некоторых критических значений I система ОС проявляет склонность к самовозбуждению. Наличие интегральной компоненты приводит к отставанию общего отклика ОС по фазе относительно сигнала рассогласования. Если для каких-то частотных компонент сигнала это отставание превышает 90, ОС для них становится положительной, что является предпосылкой самовозбуждения системы на этих частотах.
Для неконтактного режима сканирования значения параметров P и I при детектировании амплитуды должны быть выше, чем при детектировании фазы .Это связано с большим по величине временем затухания (4):
4.3. Центрировка лазерного луча
При замене кантилевера АСМ лазер должен быть отцентрирован для получения правильной обратной связи. Это достигается регулировкой трех компонент — лазер, зеркало и фотодетектор. Задачей этой процедуры является:1). получение максимального отраженного от кантилевера сигнала на фотодетекторе, 2). настройка лазерного луча таким образом, чтобы на каждый из 4-х квадрантов фотодетектора падало одинаковое количество света
Настройка лазера, зеркала и фотодетектора осуществляется регулировочными винтами. Необходимо помнить, что после настройки следует освобождать винты, что обеспечивает стабильность настройки. Также следует избегать попыток вращения винтов за пределы регулировочного интервала, что может повредить узел.
Установите образец, используя вакуумную, магнитную присоски или клей.
Прежде чем опустить головку микроскопа, убедитесь, что кантилевер достаточно поднят над образцом. Следует наблюдать за процессом опускания на экране телевизора. Кантилевер не должен касаться своей тени, в противном случае может произойти поломка не только типа, но и Z-пьезодрайва(!).Опускание следует осуществлять, поворачивая сразу два винта.
Для наилучшего обзора сканирующего кантилевера на мониторе можно регулировать подсветку на блоке TMX1010 и фокус видеокамеры.
Запустите программу SPMLab.
-
В режиме SPMLab Acquisition перейдите в окно получения изображения, для чего нажмите кнопку получения данных в рабочей строке— .
После появления окна для выбора сканера выберите файл, соответст- вующий сканеру, установленному на Accurex.Неправильный выбор сканера может привести к поломке (!).
Выключите панель Non Contact.
В окне получения изображения на панели PreScan установите лазер в положение High.Не следует смотреть на луч лазера при поднятой головке микроскопа(!).
Вращая винты центрировки лазера настройте луч на конец V—образного кантилевера.
В окне Oscilloscope выберите Internal Sensor Feedback.
В окне Internal Sensor Feedback выберите шкалу Full Scale.
Подведите зонд к поверхности образца так, чтобы расстояние кантилевера от его тени было 1 см.
На субпанеле PreScan переключите Detector Signal в положение T-B. Производите настройку луча лазера на центр между верхним и нижним квадрантами фотодетектора. Регулировкой винта зеркала добейтесь того, чтобы след сигнала внутренней обратной связи находился в положении 0 nA (диапазон от -64,5 nA до 64,5 nA).При достижении 0 nA убедитесь, что винт находится не в конечном положении. Если зеркало не регулируется или регулируется незначительно повторите настройку лазера.
На субпанеле PreScan переключите Detector Signal в положение L-R. Система включается в режим центрирования поперечной силы (лево—право). Регулировкой винта фотодетектора приведите сигнал внутренней обратной связи в положении 0 nA.
На субпанеле PreScan переключите Detector Signal в положение Sum. В этом режиме квадрантный фотодетектор суммирует весь сигнал, позволяя точно настроить луч на конец кантилевера.
Повторите п.14,затем п.13.
4.4. Подготовка к сканированию в неконтактном режиме.
Включите панель Non Contact Control. Выберите опцию Non Contact Active.
Теперь в квадрате Mode следует выбрать режим работы обратной связи.
Amplitude Mode. При амплитудном детектировании петля обратной связи настраивается на изменение амплитуды осцилляций кантилевера. В квадрате Mode нужно выбрать режим работы обратной связи — Amplitude.
После нажатия на Spectrum система развернет полный частотный интервал и отобразит спектр колебаний кантилевера.
Используя функцию Zoom In добейтесь более высокого разрешения резонансного пика (2-3 кГц).Если вершина резонансного пика обрезана уменьшите напряжение Drive Amplitude (при этом уменьшится амплитуда колебаний кантилевера )и повторите п. 20.
Установите красный маркер на вершину резонансного пика.
Нажмите Register Amplitude и амплитуда свободно осциллирующего кантилевера будет зарегестрирована для использования в обратной связи Это исключает возможность повреждения типа в процессе его опускания.
-
Мотором опустите тип (расстояние до тени 2-3 мм)— .
Нажмите кнопку Tip Approach.При работе в Non Contact Amplitude Mode нельзя проверить обратную связь с помощью Sensor Response (!), т.к. в этом случае контакта типа с образцом быть не должно.
Для стабильности сигнала обратной связи на осциллоскопе попробуйте увеличить или уменьшить Set Point. При установлении слишком малого значения Set Point (10%) возможна поломка зонда (!).
Phase Mode. При фазовом детектировании петля обратной связи настраивается на изменение фазы осцилляций кантилевера. В квадрате Mode нужно выбрать режим работы обратной связи— Phase.
Нажмите Spectrum. Используя функцию Zoom In, добейтесь более высокого разрешения резонансного пика (2-3 кГц).
Поставьте красный маркер в резонанс и зарегистрируйте резонансную частоту.
Переключитесь на фазовое детектирование в окне Mode Phase.
В окне Phase выбирите фазовый угол, который дает максимальный отрицательный сигнал внутренней обратной связи в окне Ossiloscope.
Определите величину сигнала обратной связи.
Выставите Set Point в интервале 30—50 процентов от сигнала обратной связи.
Мотором опустите тип (расстояние до тени 2-3 мм)—.
Нажмите кнопку Tip Approach.При работе в Non Contact Phase Mode нельзя проверить обратную связь с помощью Sensor Response (!), т.к. в этом случае контакта типа с образцом быть не должно.
Для стабильности сигнала обратной связи на осциллоскопе попробуйте увеличить или уменьшить Set Point. Но увеличение значения Set Point меньше 10 приведет к поломке зонда (!).
4.5. Процедура сканирования.
В окне Oscilloscope нажмите ScanLine.
Подберите параметры P I D для оптимального сканирования. Скорость сканирования Scan Rate должна быть не больше Scan Range.
-
Для начала сканирования нажмите кнопку Instant Scan  в рабочей строке SPMLab.Эта же кнопка и останавливает сканирование.
После окончания сеанса сканирования поднимите тип — .
Запись изображения производится нажатием кнопки SaveAll в рабочей строке. В области Description можно записать информацию о размере скана, особенности образца и типа. Причем если вы получаете информацию с нескольких каналов, то каждое изображение запишется под тем же именем с расширением, соответствующим типу скана.
По окончании работы отведете тип вручную на безопасное расстояние от образца, выключите красный лазер и выйдите из SPMLab.
5. Техника безопасности
1. Сканер управляется напряжением 220В. Запрещается снимать панель соединений сканера и производить замену сканера без обесточивания цепей высокого напряжения.
Эксплуатацию СЗМ производить в соответствии с ПТЭ и ПТБ электроустановок потребителей напряжением до 1000 В.
Произведение замены сканеров и коммутацию цепей высокого напряжения может производить только инженер, имеющий допуск к эксплуатации электроустановок потребителей напряжением до 1000 В.
2. Попадание луча лазера в глаза может вызвать ослепление и повреждение сетчатки.
Перед тем, как поднять головку микроскопа, следует выключить лазер нажатием кнопки "Laser Off" на субпанели "PreScan" в окне управляющей программы SPMLab.
6.Задание
Установите стандартный образец: компакт-диск с удаленным защитным слоем, кантилевер для неконтактной моды.
Запустите программное обеспечение SPMLab.
Проведите процедуру центрировки лазера.
Выберите амплитудное детектирование.
Варьируя величины параметров обратной связи подберите оптимальные значения P I D.
Произведите сканирование образца в режиме Amplitude Mode.
Попробуйте уменьшить сканируемый интервал и изменить направление движения зонда, используя кнопки Zoom / Translation.
Повторите сканирование при фазовом детектировании.
Сравните полученные изображения и сделайте выводы о режимах.
Постройте двумерное и трехмерное изображения поверхности и профили линий скана через выбранный пит.
Пользуясь функциями Analysis => Critical Dimension в окне анализа изображений, определить характерные размеры (длину, ширину и глубину) выбранного пита.
Литература
М.Борн, Э.Вольф. Основы оптики. М.: Наука, 1973.
Э.Руска. Развитие электронного микроскопа и электронной микроскопии — Нобелевские лекции по физике – 1996. УФН, т. 154 (1988), вып.2, с. 243.
Г.Биннинг, Г.Рорер. Сканирующая туннельная микроскопия — от рождения к юности — Нобелевские лекции по физике – 1996. УФН, т. 154 (1988), вып.2, с. 261
A Practical Guide to Scanning Probe Microscopy. ThermoMicroscopes, 1999. (http://www.thermomicro.com/spmguide/contents.htm)
U.Hartmann. An Introduction to Atomic Force Microscopy and Related Methods. TopoMetrix, 1997.
N.J.DiNardo. Nanoscale Characterization of Surfaces and Interfaces. Wiley, 1994.
А.А. Бухараев, Д.Б. Овчинников, А.А. Бухараева. Диагностика поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии (обзор). Заводская Лаборатория. Исследование структуры и свойств, Физические методы исследования и контроля. 1996, №1, с.10-27. (http://www.ntmdt.ru/publications/download/rsp_96.pdf)
П.А. Арутюнов, А.Л. Толстихина. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть I: Микроэлектроника, 1999, том 28, № 6, с. 405-414 (http://www.ntmdt.ru/publications/download/microelecronica_1999_28_6.pdf)ю Часть II: Микроэлектроника, 1999, том 29, № 1, с. 13-22 (http://www.ntmdt.ru/publications/download/microelecronica_1999_29_1.pdf).
Контрольные вопросы
Назовите основные компоненты СЗМ и их назначение. Поясните устройство и принцип действия неконтактного силового сенсора.
Объясните понятие пьезоэлектрического эффекта на примере кварца и принцип действия пьезоэлектрического двигателя. Как осуществляется перемещение по трем координатам с помощью трубчатого сканера?
Объясните принцип действия системы обратной связи и смысл параметров P, I, D.
Назовите факторы, определяющие качество изображения в СЗМ.
Как проявляется влияние наличия адсорбционного слоя на поверхности образца на взаимодействие зонда и поверхности?
Назовите основные неконтактные AFM-моды и физические особенности работы СЗМ в них.
Что означает сигнал Internal Sensor?
Какой физический смысл имеет разность значений Set Point и Offset после вхождения в обратную связь? Какое значение этой величины характерно для различных неконтактных мод?
|
